Đèn vòng Macro

Nguồn sáng bề mặt có thể được điều khiển toàn cầu, điều khiển vòng, điều khiển khối hướng vòng 1/8 hoặc 1/4 vòng tròn hoặc điều khiển vùng riêng lẻ. 

Mỗi vùng có thể được điều khiển theo ý muốn để làm cho hình ảnh của linh kiện được kiểm tra rõ ràng hơn và loại bỏ sự can thiệp của phần bóng, để phần rìa khó quan sát được trình bày rõ ràng. 

Sử dụng các nút bên dưới để chuyển lựa chọn và thanh cuộn ở bên phải để điều chỉnh độ sáng. Người dùng có thể sử dụng nhiều phần nguồn sáng cùng lúc, trước tiên nhấn giữ phím Ctrl, sau đó nhấp vào phần nguồn sáng sẽ sử dụng hoặc dùng chuột kéo khung để chọn phần nguồn sáng sẽ sử dụng.

-Ví dụ về việc sử dụng nguồn sáng bề mặt năm vòng: 

Kiểm soát vòng

Kiểm soát vùng

Kiểm soát khối

     -Cung cấp các tùy chọn khoảng cách làm việc dài và ngắn 

Sử dụng vật kính 2X sẽ rút ngắn khoảng cách làm việc giữa thấu kính và vật đo, và vì nó gần vật đo hơn nên cũng phải sử dụng nguồn sáng vòng bề mặt 2X. Vì độ sáng của nguồn sáng vòng bề mặt 2X mạnh hơn và góc tới của ánh sáng gần mức hơn, nên có lợi hơn cho việc quan sát và đo các cạnh và rãnh đặc biệt; 

Ngược lại, khi không lắp vật kính 2X, khoảng cách làm việc sẽ dài hơn, độ sáng nguồn sáng của nguồn sáng vòng bề mặt 1X cũng tối hơn và góc tới của ánh sáng gần với phương thẳng đứng hơn. 

       -Thông tin thêm: 

Các chức năng nguồn sáng hiệu quả của thiết bị đo hình ảnh Micro-Vu bao gồm: nguồn sáng bề mặt, nguồn sáng đường viền và nguồn sáng đồng trục. 

      -Nguồn sáng đường viền:

Nguồn sáng đường viền được phát ra từ đáy của vật đo và thích hợp nhất để đo các lỗ xuyên thấu và cạnh của vật đo. Chỉ sử dụng nguồn sáng đường viền để quan sát vật đo sẽ tạo ra hình ảnh đen trắng với các cạnh sắc nét và độ tương phản cao. 

      -Nguồn sáng đồng trục: 

Nguồn sáng đồng trục được phát ra từ mặt bên của thấu kính, được phản xạ bởi nửa gương trong thấu kính, sau đó ánh sáng tập trung xuyên qua tâm thấu kính để chiếu sáng bề mặt của vật gia công. 

Nguồn sáng đồng trục được sử dụng phổ biến nhất trong các phép đo độ phóng đại cao, các lỗ mù và các phép đo phần tử trên bề mặt phẳng.